检索结果相关分组
- 第四届科利登系列技术研讨年会在西安成功举办
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨 西安 测试解决方案 生产测试 供应商
- 描述：从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation）日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列测试技术研讨年会”。[第一段]
- 科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试实验室 测试系统 欧洲 混合信号 多媒体 高电压 芯片 视频
- 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统来测试多媒体音，视频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
- 科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 测试能力 自动测试设备 科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片
- 描述：度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
- EmiSchope-II系统
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： EmiSchope II系统 科利登子公司 固态浸人透镜 IC设计
- 描述：EmiSchope-II系统
- 服务测试领域 满足客户需求：访科利登系统公司首席执行官Da
- 作者：Dave Ranhoff 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 首席执行官 服务测试 客户需求 测试解决方案 全球范围 技术人员 设备制造商 科利登公司 工业设计
- 描述：科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
- 科利登公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：在2006年度VLSI Research客户满意度调查中，科利登公司再次取得了很好的排名。科利登公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名，这也证明了科利登公司的产品、客户服务和支持的独到之处。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]