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首页>根据【来源:国外电子测量技术】搜索到相关结果5条

科利登Sapphire D-10系统获奖: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 系统获奖 award 有限公司 Best Test 测试; 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]

科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮: 作者：王明伟 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 新潮流测试系统低成本半导体工业生产商解决方案经济化产品测试技术发展测试设备; 描述：科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮

科利登和Cadence合力加快良率诊断的新流程: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型：期刊文章; 描述：科利登（Credence）和Cadence共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]

科利登完备失效分析实验室落户威盛: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司分析实验室失效完备设计公司科利登公司台湾地区特征分析生产线购买; 描述：科利登公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless（无生产线的芯片设计公司）。[第一段]

科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 系统科利登系统有限公司 SEMICON China展会 Sapphire D 10 失效分析; 描述：科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上详细介绍了以下产品：[第一段]

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