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科利登:增强型SZ Falcon测试系统
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作者:暂无 来源:今日电子 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 增强型 串行总线 数字信号处理 任意波形发生器 数据传输 模拟波形 混合信号 测试程序开发 测试要求 测试系统
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描述:科利登:增强型SZ Falcon测试系统
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CREDENCE:为中国的半导体产业服务
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作者:暂无 来源:今日电子 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司 中国 半导体产业 自动测试设备 市场
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描述:M)、混合信号、系统级芯片(SoC),以及无线半导体设备等。可以说,该公司服务的都是热门产业,如汽车、便携计算、消费和通信产品的典型应用。公司混合信号和无线部门副总裁兼总经理LarryDibattista先生认为,由于市场因素与技术创新共同形成了新的需求,意味着必须采用多种方法来检测设备中存在的缺陷。他说:“我们的解决方案应用于全球行业领先的集成设备制造商(IDM)、芯片工厂、外源组装测试(OSTAT)供应商、芯片设计公司。”他还告诉记者,最近,该公司在VLSI Research的“2002年度消费者最满意奖”评选中,成为北美自动测试设备供应商第一名和测试与材料处理设备供应商第四名。Dibattista先生说:“越来越多的半导体厂商正在把集成电路的生产和测试转移到中国。当本地的芯片工厂和转包精力于提供独一无二的产品和...
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科利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
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作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司 集成电路 测试技术 系统级芯片 嵌入式温度稳定技术 Personal Kalos 2 ASL 3000RF
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描述:体制造厂商纷纷把集成电路制作和测试中心迁往亚洲,尤其是中国。随着数字消费电子、汽车、3G通信及网络等行业的快速发展,在这里用于DVD播放器、手机元件和游戏控制台的芯片的需求量会在未来的几年内迅速增加。科利登系统公司适应时代潮流,将继续投资于其办事处、分公司、员工、产品、服务和用户,以支持中国半导体产业的成长。科利登系统公司是世界半导体行业领先的测试供应商,提供从设计到生产全套的测试解决方案。为了应对现代SoC、混合信号、无线和闪存装置等方面的测试挑战,满足半导体工业测试范围日益扩大的需要,他们通过整合贯穿设计、验证、生产步骤的测试方案,正在改变半导体生产的未来。其测试系统被业界领先的整合器件制造商、芯片代工商、外部封装测试供应商和无生产线芯片公司广泛采用。最近,在VLSI调查公司的2003最佳客户满意度调查中,科利登...
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感受硅谷(二)
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作者:赵雪芹 来源:今日电子 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 美国国家半导体公司 模拟技术供应商 科利登系统公司 CEVA公司
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描述:个人电脑及笔记本电脑等市场。该公司还特别为医疗设备、汽车电子系统、工业器材及测试和测量设备提供各种专门的解决方案。电源管理技术和放大器两大产品的营业额占其总收入的一半。根据iSupply 市场资料显示,该公司2003年在全球电源管理芯片市场以高达12.5%的市场占有率居于榜首。其领先的微型封装技术Micro SMD 及Microfil 也广受客户赞誉。在刚刚结束的2004年,该公司共获得 221 项专利,创下有史以来的最高记录。 美国国家半导体董事长兼总裁Brian L. Halla先生认为,随着创新模拟技术的应用和无限/ 无线连结的网络的发展,未来将进入个人消费科技(Personal Technology)的PT时代,庞大的个人消费市场需求将是未来发展的驱动力。 Brian 说,自1970 年以来,电子产业经历了由...
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科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
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作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位 成品率 失效分析 软件设计 长工作距离 新型集成电路 失效模式 切换系统 竞争优势 制造工艺
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描述:效和稳固。GlobalScan-I支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。物镜的选择包括用于倒贴片和线绑定封装芯片的两个固体浸润物镜系统、用于较难探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统与科利登的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope相同的功能。将EmiScope技术结合到GlobalScan-I系统中允许用户通过重新装配,在整体隔离技术和节点级信号探测间切换系统功能。 科利登董事会主席兼首席执行官Graham Siddall博士说:“现代集成电路呈现广泛的失效模式,从结构化失效到间歇的或敏感的缺陷,可能的根本原因会有很多。通过隔离与设计或制造工艺无关...
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科利登打造业界领导者新形象
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作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司 特征分析 生产测试 市场 发展策略
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描述:设备领域业界领导者的新形象。
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科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
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作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率 步进扫描 图像叠加 掩模 系统定位 集成电路 量产时间 问题 产品 加工成本
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描述:效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。