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科利登推出Sapphire-D10系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire  D10系统  封装  测试  集成电路  科利登系统公司 
描述:高的并行能力。[第一段]
Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
科利登推出新型测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 推出  Kalos  集成电路测试系统  Personal  科利登系统公司  非挥发性存储器  测试能力  存储器件  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
科利登测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  科利登系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Atmel利用科利登的ASL3000RF^TM无线测试系统
作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 解决方案  测试系统  性能  射频芯片  开发团队  灵活度  科罗拉多  开发时间  分支机构  无线测试 
描述:科利登系统有限公司近日宣布:Atmel公司购买了ASL 3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件
Atmel采用科利登无线测试系统实现高效率
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  测试解决方案  无线器件  高效率  射频芯片  ASL3000  Atmel公司  分支机构  团队  工程开发 
描述:科利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
矽格定购科利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 矽格微电子公司  Sapphire测试系统  科利登系统有限公司  SoC器件  定购 
描述:科利登系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire测试系统。作为科利登近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场
Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  ASL3000  测试效率  WLAN  测试解决方案  无线器件  测试成本  分支机构  团队  工程开发 
描述:N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:测试与封装外包市场的增长。
科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统