检索结果相关分组
DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: DMEA工程实验室  IMS  Vanguard测试系统  科利登公司  微处理器 
描述:DMEA购买科利登IMS Vanguard测试系统
Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 宽带数字信号处理器  测试  Octet系统  Ikanos公司 
描述:Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
Silicon Image购买了科利登Sapphire测试
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  电子器件  测试系统  消费类  购买  科利登系统公司  gigabit  一代  测试解决方案  半导体工业  测试平台  有限公司  数据传输  供应商  存储器  代码 
描述:些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
科利登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  科利登系统公司  模拟  测试应用  数字电视  模数转换    视频  XDSL 
描述:科利登系统公司日前宣布:在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件(QBIX)能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视,音/视频数模/模数转换,XDSL,中频,移动基带
新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 成品率  掩模  测试解决方案  系统定位  集成电路  量产时间  物理分析  供应商  问题  产品 
描述:正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科利登系统公司2004年第二季度财务报告
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:科利登系统公司2004年第二季度财务报告
科利登推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Kalos  测试解决方案  x系统  推出  He  集成电路测试系统  Personal  科利登系统公司  非挥发性存储器  存储器件  测试能力  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试