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2
条
科利登
Sapphire
D-10系统获奖
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述：
科利登系统有限公司日前宣布其
Sapphire
D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
科利登引领测试经济化新潮流——
Sapphire
D-10亮
作者：
王明伟
来源：
国外电子测量技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
新潮流
测试系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品测试
技术发展
测试设备
描述：
科利登引领测试经济化新潮流——
Sapphire
D-10亮
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