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首页>根据【检索词:Sapphire】搜索到相关结果4条

科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司测试系统自动测试设备微处理器芯片 SPARC 高速芯片系统使用; 描述：开发。[第一段]

Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 经济化革新测试电子产品电池寿命操作性能图象质量制造商消费类; 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新

microtec购买多台科利登Sapphire D-10测: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试系统购买渗透力测试实验室市场有限公司混合信号音视频数字和多媒体; 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音／视频数字

科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片特性无线应用芯片尺寸测试设备工程验证混合信号复杂度; 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度。[第一段]

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