检索结果相关分组
- 用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 器件测试 并行测试 特性分析 测试系统 专用芯片 高密度 测试能力 移动电话 高集成 数字仪器
- 描述：IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 矽格定购科利登Sapphire测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 矽格微电子公司 Sapphire测试系统 科利登系统有限公司 SoC器件 定购
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布：矽格微电子公司，已经购买了多台Sapphire测试系统。作为科利登近10年的客户，矽格直接经历了SoC器件的需求增长，这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场