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测试
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根据【检索词:Sapphire测试系统】搜索到相关结果
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条
科利登
sapphire
D-10
测试
系统
销往欧洲领先的
测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
实验室
测试
系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科利登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10
测试
系统
。该
测试
实验室将使用这些先进的
测试
系统
来
测试
多媒体音,视频数字和混合
服务
测试
领域 满足客户需求:访科利登
系统
公司首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登
系统
公司
首席执行官
服务
测试
客户需求
测试
解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科利登公司
工业设计
描述:
科利登
系统
公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
EmiSchope-II
系统
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
EmiSchope
II
系统
科利登子公司
固态浸人透镜
IC设计
描述:
EmiSchope-II
系统
科利登推出具有6.4G bps
测试
能力的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试
能力
自动测试设备
科利登
系统
公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该
系统
测试
和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产
测试
解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本
测试
解决方案而设计。[第一段]
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