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3
条
科利登
Sapphire
D-10
系统
获奖
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述：
科利登
系统
有限公司日前宣布其
Sapphire
D-10
系统
荣获2006年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳
测试
奖）奖项。[第一段]
科利登引领
测试
经济化新潮流——
Sapphire
D-10亮
作者：
王明伟
来源：
国外电子测量技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
新潮流
测试
系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品
测试
技术发展
测试
设备
描述：
科利登引领
测试
经济化新潮流——
Sapphire
D-10亮
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
科利登
系统
有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述：
科利登
系统
有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
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