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半导体行业
失效分析
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条
Credence参展2003
SEMICON
作者：
暂无
来源：
半导体技术
年份：
2003
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登系统公司
混合信号
闪存
无线通信
测试方案
ASL
3000RFTM系统
Quartet
One系统
TestDeveloper
ASL
1000
Personal
Kalos
描述：
Credence参展2003
SEMICON
Credence亮相
Semicon
China 2003：
作者：
周检兵
来源：
集成电路应用
年份：
2003
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
科利登系统公司
Mr.LarryDibattista
半导体行业
SemiconChina2003
中国市场
测试
描述：
供设计、测试验证和先进的光学检测方面的测试技术,使低测试成本和快速市场投放成为可能。Credence公司还可
科利登
SEMICON
展出Sapphire D-10系统
作者：
杨振中
来源：
电子资讯时报
年份：
2006
文献类型 ：
报纸
描述：
【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006
SEMICON
China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
科利登在2006年度
SEMICON
China展会上展出S
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2006
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
系统
科利登系统有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述：
科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度
SEMICON
China展会。科利登在
SEMICON
China展会上
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