检索结果相关分组
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 购买 产品线 汽车工业 合作伙伴 制造商 系统 公司 器件 TM 测试
- 描述：到30
- Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 宽带数字信号处理器 测试 Octet系统 Ikanos公司
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
- Ikanos选择科利登的Octet测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Ikanos通讯公司 Octet测试系统 数字信号处理
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet测试系统
- 日月光定购多台科利登的SoC测试系统Octet
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： SoC测试 半导体测试 生产测试 器件 光测 系统性能 测试能力 纳斯达克 股票 量产
- 描述：统性能和测试能力，可以满足下一代器件技术，对测试系统测试容量和范围的要求。
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新