检索结果相关分组
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- IC China 2005部分参展企业介绍
- 作者：暂无 来源：半导体行业 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： China 企业介绍 Cadence公司 科利登公司 IC 参展 有限公司 国际贸易 微电子
- 描述：计算机和测试之间的高速接口,多site并行测试,并发测试,Falcon的这些特性能有效地降低测试成本。Kalos:科利登Kalos2测试系统是Kalos家族的最新成员,用于测试当今以及下一代非挥发性
- 测试与测量
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试仪 科利登公司 采样示波器 测量 数据采集设备 PXI模块 HSDPA 自动测试 自动控制
- 描述：科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2．0高速数据采集设备;[第一段]
- 科利登连续三年ATE供应商满意度第一
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
- 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- IC China2005科利登公司展品介绍
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 展品介绍 IC Kalos
- 描述：Sapphire D-10；Kalos；Falcon。[第一段]
- 科利登与北方工大合作成立IC工程培训中心
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 培训中心 工程 合作 北方 科利登系统公司 IC 半导体产品 SoC测试 工业大学 特性分析
- 描述：科利登系统公司日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心，为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析，然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本 科利登系统公司 芯片 市场需求 多功能
- 描述：为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
- 科利登:成就测试帝国
- 作者：安勇龙 来源：电子经理世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登:成就测试帝国