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首页>根据【检索词:IC测试】搜索到相关结果2条

科利登Sapphire D-10系统获奖: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 系统获奖 award 有限公司 Best Test 测试; 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]

科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮: 作者：王明伟 来源：国外电子测量技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 新潮流测试系统低成本半导体工业生产商解决方案经济化产品测试技术发展测试设备; 描述：科利登引领测试经济化新潮流——Sapphire D-10亮

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