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1
条
科利登和
Cadence
合力加快良率诊断的新流程
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
描述：
科利登（Credence）和
Cadence
共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
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