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条
科利登（Credence）和
Cadence
合作验证加快良率
作者：
暂无
来源：
半导体行业
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Cadence
验证
合作
科利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
捕获数
描述：
adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据，[第一段]
Credence和
Cadence
合作验证加快良率诊断的新流程
作者：
暂无
来源：
半导体技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Cadence
验证
合作
科利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试向量
描述：
段]
科利登和
Cadence
合作验证加快良率诊断的新流程
作者：
暂无
来源：
集成电路应用
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
关键词：
Cadence
验证
合作
科利登系统公司
诊断
测试平台
Test
测试覆盖率
测试向量
描述：
adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中，使用该诊断流程能增加测试覆盖率，提高缺陷定位速度。[第一段]
科利登和
Cadence
合力加快良率诊断的新流程
作者：
暂无
来源：
国外电子测量技术
年份：
2005
文献类型 ：
期刊文章
描述：
科利登（Credence）和
Cadence
共同努力，针对现在大部分良率要求很高的纳米设计，推出的解决方案提高了产品质量，加大了测试产能，加快了缺陷定位速度，从而最终缩短了量产上市时间。[第一段]
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