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- 科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
- 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 芯片 成本控制 封装测试系统 D—10系统 图形调试
- 描述：科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
- 科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： China 测试系统 IC 成本 科利登系统公司 芯片 市场需求 多功能
- 描述：为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求，科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
- 科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
- 全球有超过150套的科利登的3．2Gbps测试设备用于高速
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章
- 描述：被全球10大主要客户所采用，这些客户有著名的fabless设计公司，测试承包商及IDM领导厂商。科利登D-3208高性能设备可用于多种应用中的产品特征分析及量产测试，包括HyperTransport，PCI Express和最新的DDRx等。而且，D3208上不仅能对串行总线进行分析和测试，也能用于并行总线，而其它很多竞争产品都只能应用于单一的总线模式。[第一段]