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科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  科利登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获
科利登sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:科利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统测试多媒体音,视频数字和混合
科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该系统使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
服务测试领域 满足客户需求:访科利登系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  科利登公司  工业设计 
描述:科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
教育应是社会本位、知识本位、人本位的和谐
作者:王占宝  来源:上海教育 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 传统教育  知识本位  人本位  基本规律  实践教育  研究教育  和谐  社会本位  系统  走向 
描述:实践教育、研究教育、评价教育应该遵循教育的基本规律,继承优良的传统,把握教育的科学走向,根据教育的具体环境,回到教育的原点,回到教育的系统中来。
科利登最新推出Sapphire
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  有限公司  半导体材料  半导体工业  美国加州  供应商  e系列  系统 
描述:来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  科利登系统有限公司  SEMICON  China展会  Sapphire  D  10  失效分析 
描述:科利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上