检索结果相关分组
- 物理设计纠错和验证完整解决方案 显著加快新品上市进程
- 作者：丁辉文 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 物理设计纠错 验证 半导体制造 硅片纠错 科利登公司
- 描述：术的快速发展与迅速变
- 科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 设计纠错 验证 Verity系统 芯片
- 描述：科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- 科利登推出新型测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 推出 Kalos 集成电路测试系统 Personal 科利登系统公司 非挥发性存储器 测试能力 存储器件 软件工具 嵌入式 全兼容 硬件
- 描述：生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 科利登测试系统被Silicon Image采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Silicon Image 测试系统 科利登系统公司 gigabit 解决方案 测试平台 电子器件 有限公司 数据传输 数字媒体 存储器 消费类 供应商 半导体
- 描述：科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
- Ikanos选择科利登的Octet测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Ikanos通讯公司 Octet测试系统 数字信号处理
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet测试系统
- 矽格定购科利登Sapphire测试系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 矽格微电子公司 Sapphire测试系统 科利登系统有限公司 SoC器件 定购
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布：矽格微电子公司，已经购买了多台Sapphire测试系统。作为科利登近10年的客户，矽格直接经历了SoC器件的需求增长，这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场