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合同纠纷
半导体工业
分析能力
多金属矿石
天井钻机
半导体市场
公司
半导体生产
分层充填采矿法
发展
器件
科利登公司
地下矿山
失效分析
Kalos
器件测试
品位
Raytheon公司
SoC芯片
冶炼厂
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根据【检索词:香港登利登公司等申请承认和执行香港特别行政区高等法院原讼法】搜索到相关结果
17
条
香港
科技园运用科
利
登
的工具完善其诊断和特征分析能力
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
特征分析
科技园
分析能力
诊断
香港
Systems
工具
有限公司
CMOS
工程验证
描述:
科
利
登
系统有限公司(Credence Systems Corporation,纳斯达克代码:CMOS)宣布:
香港
科技园(HKSTP)在其已有的一系列科
利
登
诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础
科
利
登
系统
公司
2004年第二季度财务报告
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
公司
2004年第二季度财务报告
科
利
登
宣布收购NPTest的最终协议
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
NPTest
公司
非DRAM半导体测试领域
企业重组
描述:
科
利
登
宣布收购NPTest的最终协议
科
利
登
加入PCI—SIG和HyperTransport组织
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
PCI
SIG
HyperTransport组织
系统级芯片
描述:
科
利
登
加入PCI—SIG和HyperTransport组织
新型科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
Credence科
利
登
为制造商提供经济的解决方案和产能优势
作者:
乔治
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
公司
成本效益
Credence
小型化
集成化
描述:
作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。
新型科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
新型科
利
登
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
新型科
利
登
GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
成品率
掩模
测试解决方案
系统定位
集成电路
量产时间
物理分析
供应商
问题
产品
描述:
正,从而降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
Silicon Image购买了科
利
登
Sapphire测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试系统
消费类
购买
科
利
登
系统
公司
gigabit
一代
测试解决方案
半导体工业
测试平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
Micrel购买多台科
利
登
ASL 3000和ASL 100
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号测试
Micrel
公司
科
利
登
ASL3000
ASL1000系统
描述:
Micrel购买多台科
利
登
ASL 3000和ASL 100
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