检索结果相关分组
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 购买 产品线 汽车工业 合作伙伴 制造商 系统 公司 器件 TM 测试
- 描述：到30
- 科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 混合信号测试 测试系统 电子器件 测试设备 提高成品率 器件测试 电子芯片 测试成本 集成电路 测试要求
- 描述：科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 宽带数字信号处理器 测试 Octet系统 Ikanos公司
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
- 芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试
- 作者：丁辉文 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 温度稳定装置确 测试系统 热管理系统 科利登公司 芯片级温度稳定技术 测试成本 集成电路
- 描述：芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试