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首页>根据【检索词:集成电路器件】搜索到相关结果5条

科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模量产时间诊断系统测试调试方法降低产品加工成本遗漏; 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10: 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 器件测试并行测试特性分析测试系统专用芯片高密度测试能力移动电话高集成数字仪器; 描述：IC市场趋势多元化应用驱动芯片量产消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命;电话、PDA整合多种功能;玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能;基于铝铁等金属的汽车

科利登推出Sapphire-D10系统: 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统封装测试 集成电路 科利登系统公司; 描述：高的并行能力。[第一段]

Zetex半导体购买多台科利登ASL3000系统: 作者：刘林发 来源：电子与封装 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： ASL3000 半导体购买科利登系统公司混合信号测试成本器件拟和; 描述：科利登系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。

科利登推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活，完: 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： Kalos 测试解决方案 x系统推出 He 集成电路测试系统 Personal 科利登系统公司非挥发性存储器存储器件测试能力软件工具嵌入式全兼容硬件; 描述：生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试。

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