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首页>根据【检索词:集成电路器件】搜索到相关结果2条

科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模量产时间诊断系统测试调试方法降低产品加工成本遗漏; 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

ELMOS签署了购买多台科利登Piranha系统协议: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 签署购买产品线合作伙伴科利登公司需求协议 ha系统器件平台; 描述：科利登公司日前宣布，ELMOS半导体签署了购买多台科利登Piranha系统的协议。作为科利登的长期合作伙伴，ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试

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