检索结果相关分组
- 科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
- 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 集成电路 掩模 量产时间 诊断系统 测试 调试方法 降低 产品 加工成本 遗漏
- 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
- 芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试
- 作者：丁辉文 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 温度稳定装置确 测试系统 热管理系统 科利登公司 芯片级温度稳定技术 测试成本 集成电路
- 描述：芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试
- 科利登推出Sapphire-D10系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
- 描述：高的并行能力。[第一段]
- 科利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 集成电路 测试技术 系统级芯片 嵌入式温度稳定技术 Personal Kalos 2 ASL 3000RF
- 描述：体制造厂商纷纷把集成电路制作和测试中心迁往亚洲,尤其是中国。随着数字消费电子、汽车、3G通信及网络等行业的快速发展,在这里用于DVD播放器、手机元件和游戏控制台的芯片的需求量会在未来的几年内迅速增加
- 科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 混合信号测试 测试系统 电子器件 测试设备 提高成品率 器件测试 电子芯片 测试成本 集成电路 测试要求
- 描述：科利登(Credence)公司混合信号测试系统