江西临川文化特色文献库

检索结果相关分组

按文献类别分组: 报纸(11); 期刊文章(9)

按栏目分组: 历史名人 (20)

按年份分组: 2014(6); 2012(2); 2011(2); 2010(1); 2007(1); 2006(2); 2005(1); 2004(3); 1997(1); 1994(1)

按来源分组: 中国经济导报(2); 甘肃金融(1); 长江商报(1); 南方都市报(1); 21世纪经济报道(1); 金三角(1); 中华工商时报(1); 深圳晚报(1); 电子测试(新电子)(1); 东西南北(1)

相关搜索词

首页>根据【检索词:降低】搜索到相关结果1条

科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统: 作者：暂无 来源：电子测试(新电子) 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 集成电路掩模量产时间诊断系统测试调试方法降低产品加工成本遗漏; 描述：科利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源，从而实现快速的设计修正，降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。

首页上一页 1 下一页尾页