检索结果相关分组
- 名与利
- 作者：翁礼华 来源：新理财 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 行为举止 《周礼》 中国古代 衣食住行 丧葬礼仪 等级制 官爵
- 描述：有名者不可图利,有利者谋名亦难免有风险。个中得失道理尽管如此明白,有些人还是免不了煞费苦心追逐名利
- 佐利克访华磋商胡布会细节
- 作者：暂无 来源：钱江晚报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：新华社北京1月24日电 国务院总理温家宝２４日在钓鱼台国宾馆会见了美国常务副国务卿佐利克。温家宝同客人就双边关系和共同关心的国际及地区问题交换了看法。 同日，外交部长李肇星也在钓鱼台国宾馆会见佐
- 科利登获“最佳测试奖”
- 作者：暂无 来源：上海商报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述： 本报讯 近日，来自美国加州苗必达市的消息称：科利登系统有限公司的Ｓａｐｐｈｉｒｅ Ｄ－１０系统荣获２００６年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解，Ｓａｐｐｈｉｒｅ
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- 科利登最新推出Sapphire
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 有限公司 半导体材料 半导体工业 美国加州 供应商 e系列 系统
- 描述：来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展（Semicon West）上展示了该公司领先业界
- 威盛电子选用科利登解决方案
- 作者：刘林发 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 威盛电子股份有限公司 设计公司 分析实验室 台湾地区 特征分析 Inc 生产线 购买
- 描述：科利登系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc．)成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
- 通过提高效率降低汽车零件的综合加工成本——王英天经理谈山特
- 作者：魏莹 来源：现代零部件 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 汽车零部件行业 高效率 加工成本 汽车零件
- 描述：通过提高效率降低汽车零件的综合加工成本——王英天经理谈山特
- 科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
- 第四届科利登年度技术研讨会西安召开
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试