检索结果相关分组
Verity系统:设计纠错和验证解决系统
作者:暂无 来源:世界电子元器件 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  Verity系统  设计纠错环境  物理设计  验证功能  系统结构 
描述:Verity系统:设计纠错和验证解决系统
物理设计纠错和验证完整解决方案 显著加快新品上市进程
作者:丁辉文  来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 物理设计纠错  验证  半导体制造  硅片纠错  科利登公司 
描述:术的快速发展与迅速变
科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  设计纠错  验证  Verity系统  芯片 
描述:科利登推出完整的设计纠错和验证解决方案
科利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  设计纠错  验证  Verity系统 
描述:科利登推出世界第一种完整的设计纠错和验证解决方案
承包不应是唯一解决办法——城市环境基础设施市场化改革制度设
作者:李仕林  来源:城市管理与科技 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 城市  环境  基础设施  市场化  投资体制改革  三峡库区 
描述:分析了我国目前城市环境基础设施制度设计的基本情况 ,提出了实施市场化的关键环节是投资体制改革。并提出了三峡库区及其上游地区实施市场化改革的紧迫性
Tripath技术公司购买科利登(Credence)的混合
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试设备  技术公司  混合信号  领先者  解决方案  生产测试  半导体工业  系统公司  购买  设计 
描述:作为一个为全球半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先者,科利登系统公司日前宣布 Tripath 技术公司购买了ASL 3000测试设备。Tripath 技术
基于中国传统艺术的现代标志设计
作者:王平  来源:装饰 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 标志设计  传统艺术  中国  图形组合  《周礼》  文字  印章 
描述:基于中国传统艺术的现代标志设计
张性环境中与断裂相关的褶皱类型及特征
作者:岳云福 李三忠 高振平 郝德峰 单业华 许淑梅  来源:青岛海洋大学学报(自然科学版) 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 张性环境  横向褶皱  位移  断裂 
描述:盆地级别(一级)的横向褶皱、控坳及控隆横向褶皱、控凹及控凸横向褶皱、控制断鼻的横向褶皱、小尺度孤立横向褶皱,并与断裂分级对应.对张性环境下褶皱同时的干涉和先后的叠加(统称复合作用)进行了系统研究
“五读学诗法”教学——《梅花》教学设计与评析
作者:李俊 向芸 曾祥芹  来源:小学教学设计 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 教学设计  《梅花》  诗法  教学目标  语文“新课标”  咏梅诗  思想感情  王安石  非智力因素  阅读教学 
描述:“五读学诗法”教学——《梅花》教学设计与评析