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条
科利登推出注重
芯片
成本的高量产测试系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登公司
芯片
成本控制
封装测试系统
D—10系统
图形调试
描述:
科利登推出注重
芯片
成本的高量产测试系统
科利登在IC China
2005
展出注重
芯片
成本的高量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试系统
IC
成本
科利登系统公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China
2005
展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
科利登推出Sapphire-D10作为消费类
芯片
量产测试解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
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