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科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统: 作者：暂无 来源：电子设计应用 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司芯片成本控制封装测试系统 D—10系统图形调试; 描述：科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统

科利登跻身ATE塔尖行列: 作者：东郭 来源：电子设计应用 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 半导体行业科利登公司 ATE IC SoC 测试 ASL1000 ASL3000RF 市场; 描述：科利登跻身ATE塔尖行列

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