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条
科
利
登在IC China 2005展出注重芯片成本的
高
量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试系统
IC
成本
科
利
登系统公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科
利
登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
创建业界领导者——科
利
登投资人更新
作者:
G
Siddall
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
恩浦公司
特征分析
调试
半导体设备
描述:
创建业界领导者——科
利
登投资人更新
良好开端,再攀高峰——访美国科
利
登(Credence)系统
作者:
邬小梅
卢玥光
来源:
半导体技术
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
美国科
利
登系统公司
陈绪
人物采访
集成电路产业
战略部署
描述:
良好开端,再攀高峰——访美国科
利
登(Credence)系统
科
利
登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统使用
描述:
开发。[第一段]
Sapphire D-10来自科
利
登的测试经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自科
利
登的测试经济化革新
ATE巨头科
利
登掀起测试行业新高潮
作者:
Peter
Wu
Mike
Evon
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
ATE
行业
科
利
登公司
高潮
掀起
SEMI
中国市场
中国用户
总经理
描述:
采访记录。
microtec购买多台科
利
登Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
购买
渗透力
测试实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字
科
利
登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
全新的科
利
登:提供先进技术降低测试成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登公司
测试成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的科
利
登:提供先进技术降低测试成本
Atmel利用科
利
登的ASL3000RFTM无线测试系统实
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
ASL3000
测试效率
WLAN
测试解决方案
无线器件
测试成本
分支机构
团队
工程开发
描述:
N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
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