检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(644)
报纸
(595)
图书
(13)
会议论文
(8)
学位论文
(2)
按栏目分组
历史名人
(1138)
地方文献
(71)
地方风物
(25)
宗教集要
(13)
非遗保护
(7)
红色文化
(4)
才乡教育
(4)
按年份分组
2014
(213)
2013
(54)
2011
(131)
2007
(58)
2006
(71)
2005
(78)
2004
(54)
2003
(40)
1991
(6)
1987
(7)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
中国集成电路
(18)
其它
(14)
集成电路应用
(12)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
国外采矿技术快报
(1)
吉林环境
(1)
现代物流报
(1)
现代传输
(1)
相关搜索词
半导体工业
华为公司
公司
半导体生产
发展
副厅长
器件
科利登公司
地下矿山
失效分析
Kalos
多金属矿石
器件测试
品位
Raytheon公司
SoC芯片
冶炼厂
天井钻机
孔子
出售
合同纠纷
例谈
测定
地下矿
半导体市场
供应商
套期保值
优势资源
半导体产业
首页
>
根据【检索词:美利登公司民用惯导系统性能与应用情况调研】搜索到相关结果
78
条
科
利
登
通过战略性收购扩充核心市场
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
市场
扩充
收购
公司
总经理
亚洲区
总裁
描述:
科
利
登
(Credence)
公司
日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼
公司
副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年
公司
的发展状况。[第一段]
IC China2005科
利
登
公司
展品介绍
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
展品介绍
IC
Kalos
描述:
Sapphire D-10;Kalos;Falcon。[第一段]
芬兰奥托昆普
公司
计划出售博
利
登
公司
4700万股股票
作者:
暂无
来源:
不锈:市场与信息
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芬兰奥托昆普
公司
股票
出售
计划
美元
欧元
收入
估计
描述:
芬兰奥托昆普
公司
表示计划出售瑞典博
利
登
公司
(Boliden)约4700万股的股票,估计可收入1.03亿欧元(约1.38亿美元)。
科
利
登
系统
公司
荣获英特尔的优秀质量供应商奖
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
供应商
质量
混合信号测试
英特尔公司
3月15日
美国加州
测试系统
数字和
服务
产品
市场
描述:
其他25家
公司
已于3月15日在加州Burlingame举行的颁奖会上接受这一荣誉。
整合优势资源 突破技术创新——访科
利
登
系统
公司
总裁兼首席
作者:
陆彦
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
David
首席执行官
技术创新
优势资源
总裁
整合
测试解决方案
测试成本
描述:
并了台湾的业务,这一系列的重大决策,已经及将会给科
利
登
带来怎样的发展呢?我们就此采访了科
利
登
系统
公司
的总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff。
杨炳延莅潮
调研
“中国陶瓷艺术大展”于明年举办
作者:
邱镇沪
来源:
陶瓷(咸阳)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
陶瓷艺术品
中国
调研
美术馆
潮州市
工作会议
收藏
专家组
副主任
描述:
策展工作会议”,向与会者简要介绍了美术馆收藏策展的相关
情况
。[第一段]
科
利
登
:成就测试帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
:成就测试帝国
科
利
登
推出新型测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路测试系统
Personal
科
利
登
系统
公司
非挥发性存储器
测试能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
科
利
登
:立志成为中国ATE第一
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体工业
科
利
登
公司
中国
ATE
市场占有率
描述:
05重点展示其新推出的几款新产品。为了让读者更加了解该公司,记者特意采访了科
利
登
公司
资深副总裁、主管全球运作的BartFreedman先生,现将采访内容整理出来,以飨读者。
科
利
登
推出Sapphire-D10系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sapphire
D10系统
封装
测试
集成电路
科
利
登
系统
公司
描述:
高的并行能力。[第一段]
首页
上一页
1
2
3
4
5
下一页
尾页