检索结果相关分组
相山绿化五期工程顺利完工
作者:王峰  来源:安徽林业 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 相山  绿化  工程施工  栽植  完工  山场  覆盖地膜  苗木成活率  树种选择  侧柏 
描述:大土堆、覆盖地膜和修鱼鳞坑七道工序操作,结合雨季栽植容器苗,每天都有200~300人在现场施工。各施工队每天早晨6点上工,晚上7点多才收工,中午吃在山上,按期完成了栽植任务。相山绿化五期工程重点绿
科利登Sapphire D-10系统获奖
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  获奖  award  有限公司  Best  Test  测试 
描述:科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
教育应是社会本位、知识本位、人本位的和谐
作者:王占宝  来源:上海教育 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 传统教育  知识本位  人本位  基本规律  实践教育  研究教育  和谐  社会本位  系统  走向 
描述:实践教育、研究教育、评价教育应该遵循教育的基本规律,继承优良的传统,把握教育的科学走向,根据教育的具体环境,回到教育的原点,回到教育的系统中来。
科利登最新推出Sapphire
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  有限公司  半导体材料  半导体工业  美国加州  供应商  e系列  系统 
描述:来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:暂无 来源:国外电子测量技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统  科利登系统有限公司  SEMICON  China展会  Sapphire  D  10  失效分析 
描述:科利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
林改激活力石山变成宝/相山绿化五期工程顺利完工/繁昌县林业
作者:暂无 来源:安徽林业 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:林改激活力石山变成宝/相山绿化五期工程顺利完工/繁昌县林业
科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:杨振中  来源:电子资讯时报 年份:2006 文献类型 :报纸
描述:【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登(Credence)在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: Sun公司  测试系统  自动测试设备  systems公司  微处理器芯片  高速芯片  科利登公司  高速接口 
描述:很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获