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首页>根据【检索词:系统测试】搜索到相关结果10条

Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 经济化革新测试电子产品电池寿命操作性能图象质量制造商消费类; 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新

科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司测试系统自动测试设备微处理器芯片 SPARC 高速芯片系统使用; 描述：开发。[第一段]

Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型：期刊文章 关键词： 无线测试 ASL3000 测试效率 WLAN 测试解决方案无线器件测试成本分支机构团队工程开发; 描述：N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。

芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试: 作者：丁辉文 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 温度稳定装置确测试系统热管理系统科利登公司芯片级温度稳定技术测试成本集成电路; 描述：芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试

ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮: 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业科利登公司高潮掀起 SEMI 中国市场中国用户总经理; 描述：采访记录。

全新的科利登：提供先进技术降低测试成本: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司测试成本竞争优势商业战略; 描述：全新的科利登：提供先进技术降低测试成本

科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登公司 VLSI公司用户满意度自动测试设备; 描述：科利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查

良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统: 作者：邬小梅卢玥光 来源：半导体技术 年份：2003 文献类型：期刊文章 关键词： 美国科利登系统公司陈绪人物采访集成电路产业战略部署; 描述：良好开端,再攀高峰——访美国科利登(Credence)系统

科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可: 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片特性无线应用芯片尺寸测试设备工程验证混合信号复杂度; 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度

强强联手蓄势冲击——访科利登系统公司全球总裁兼首席执行: 作者：邬小梅 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统公司人物访谈电子行业半导体市场测试设备; 描述：dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。

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