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香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力: 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型：期刊文章; 描述：个完整的失效分析实验室，从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷，帮助客户缩短产品上市时间，降低生产成本。[第一段]

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