检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(199)
报纸
(58)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(243)
地方文献
(5)
地方风物
(4)
红色文化
(3)
文化溯源
(2)
宗教集要
(1)
按年份分组
2014
(19)
2012
(9)
2011
(11)
2010
(5)
2009
(7)
2007
(15)
2004
(41)
1992
(4)
1988
(2)
1982
(1)
按来源分组
电子与电脑
(17)
电子测试(新电子)
(10)
电子产品世界
(6)
政府法制
(2)
瞭望
(1)
中国民族报
(1)
民族出版社
(1)
抚州师专学报
(1)
天津老年时报
(1)
清华大学学报(哲学社会科学版)
(1)
相关搜索词
发展战略
优势获取平等
女子
坚决反对
蒙古族
天渊
大运河
“唐宋八大家”
北宋
制科
世界
冯梦龙
三点测交
半导体生产
章学诚
刘绍棠传
周敦颐
古代文学史
唐宋八大家
金山寺
策论
积极思维
测试
四物汤
半导体行业
儒家经学
卫生防护
器件
临床麻醉
首页
>
根据【检索词:科恩】搜索到相关结果
10
条
科
利登完成对
恩
浦国际的收购
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
恩
浦国际公司
企业收购
发展战略
描述:
科
利登完成对
恩
浦国际的收购
科
利登通过战略性收购扩充核心市场
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
市场
扩充
收购
公司
总经理
亚洲区
总裁
描述:
科
利登(Credence)公司日前在上海举办媒体答谢会,亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon回顾了2000~2004年公司的发展状况。[第一段]
科
利登推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
科
利登系统公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科
利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
ELMOS签署了购买多台
科
利登Piranha系统协议
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
签署
购买
产品线
合作伙伴
科
利登公司
需求
协议
ha系统
器件
平台
描述:
科
利登公司日前宣布,ELMOS半导体签署了购买多台
科
利登Piranha系统的协议。作为
科
利登的长期合作伙伴,ELMOS选择Piranha是因为该系统能够满足公司对支持其整个汽车器件产品线测试
Atmel采用
科
利登无线测试系统实现高效率
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
无线测试
测试解决方案
无线器件
高效率
射频芯片
ASL3000
Atmel公司
分支机构
团队
工程开发
描述:
科
利登公司近日宣布,Atmel公司选用ASL3000RF系统作为其测试解决方案。由此,Atmel位于美国科罗拉多州春城(Springs)分支机构的工程开发团队实现了对用于无线器件和应用的射频芯片较低
科
利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利登日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被测试失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
QuickLogic选用
科
利登Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利登系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10测试系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品测试系统。[第一段]
京元电子购买多台
科
利登Sapphire系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
客户
量产
节约
有限公司
电子
吞吐量
测试成本
测试系统
描述:
科
利登系统有限公司近日宣布京元电子有限公司(KYEC)已经购买了多台Sapphire测试系统。京元将使用Sapphire提高其高量产测试的吞吐量,为客户节约了测试成本。
科
利登新增端对端6.4Gbps高速芯片测试产品
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
芯片测试
高速
端对端
成本优势
测试选件
通道数量
参数分析
总线测试
IP技术
描述:
这些选件成为6.4Gbps的高速穿行总线测试的低成本解决方案。[第一段]
Ikanos选用
科
利登Octet用于宽带数字信号处理并行测试
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利登系统公司
Ikanos公司
Octet
数字信号处理
并行测试
描述:
Ikanos选用
科
利登Octet用于宽带数字信号处理并行测试
首页
上一页
1
下一页
尾页