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根据【检索词:科尼起重机设备】搜索到相关结果
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条
博大关怀 深耕不息——访
科
尼
起重机
设备
(上海)有限公司总
作者:
暂无
来源:
现代制造
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
上海市场
有限公司
总经理
起重机
设备
深耕
物流行业
销售
品牌
描述:
何总的继往开来绝非沿着别人的足迹,而是凭借其在
科
尼
超过20年的摸打滚拼,凭借其2001年初涉上海市场,短短几年,销售连年攀升,不仅令物流行业谙熟“
科
尼
”品牌,外行也啧啧称奇、无人不晓。
李浩会见世界500强企业尤
尼
芬公司总裁麦
尼
先生
作者:
暂无
来源:
新三门
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
8月22日下午,县委副书记、代县长李浩在琴江山庄亲切会见了前来我县参观访问的加拿大尤
尼
芬公司总裁麦
尼
先生。副县长金敬撑陪同。 尤
尼
芬公司是世界500强企业,也是全球生产变压器冷却系统最早、生产规模
切
尼
太失禮 胡布會打盹
作者:
暂无
来源:
香港文汇报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
為免在11月的美國中期選舉失利,共和黨內部正敦促美國總統布什棄車保帥,以國務卿賴斯取代副總統切
尼
,甚至炒掉國防部長拉姆斯菲爾德,才能挽回布什政府日益下跌的民望。 共和黨促賴斯取代切
尼
美國
科
利登获“最佳测试奖”
作者:
暂无
来源:
上海商报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
本报讯 近日,来自美国加州苗必达市的消息称:
科
利登系统有限公司的Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“最佳测试奖”奖项。 据了解,Sapphire
科
利登Sapphire D-10系统获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科
利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
科
利登最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与
设备
展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
威盛电子选用
科
利登解决方案
作者:
刘林发
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
设计公司
分析实验室
台湾地区
特征分析
Inc
生产线
购买
描述:
科
利登系统有限公司近日宣布威盛电子股份有限公司 (VIA Technologies,Inc.)成为台湾地区首家从
科
利登购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无
科
利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体测试解决方案 主要供应商──
科
利登(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
第四届
科
利登年度技术研讨会西安召开
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届
科
利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题,如IC 测试
科
利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试系统
自动测试
设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利登公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试
设备
无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436
设备
拥有完备充分的可升级性能,并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
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