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利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  VLSI公司  用户满意度  自动测试设备 
描述:利登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
创建业界领导者——利登投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——利登投资人更新
利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
Sapphire D-10来自利登的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自利登的测试经济化革新
ATE巨头利登掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  利登公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
microtec购买多台利登Sapphire D-10测
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  购买  渗透力  测试实验室  市场  有限公司  混合信号    视频  数字和  多媒体 
描述:利登系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字
利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 模块化结构  SoC芯片  特性  无线应用  芯片尺寸  测试设备  工程验证  混合信号  复杂度 
描述:SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度
全新的利登:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的利登:提供先进技术降低测试成本
Atmel利用利登的ASL3000RFTM无线测试系统实
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  ASL3000  测试效率  WLAN  测试解决方案  无线器件  测试成本  分支机构  团队  工程开发 
描述:N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
强强联手 蓄势冲击——访利登系统公司全球总裁兼首席执行
作者:邬小梅  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 利登系统公司  人物访谈  电子行业  半导体市场  测试设备 
描述:dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。