检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(621)
报纸
(404)
会议论文
(12)
图书
(6)
学位论文
(3)
按栏目分组
历史名人
(891)
地方文献
(82)
地方风物
(28)
红色文化
(16)
宗教集要
(14)
非遗保护
(8)
才乡教育
(5)
文化溯源
(2)
按年份分组
2014
(150)
2013
(32)
2011
(92)
2009
(60)
2008
(68)
2007
(50)
2006
(62)
2005
(69)
2004
(61)
2003
(40)
按来源分组
电子工业专用设备
(19)
中国集成电路
(18)
半导体技术
(16)
集成电路应用
(12)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
电子产品世界
(6)
国外电子测量技术
(5)
现代制造
(3)
建筑机械化
(1)
相关搜索词
测试
分支机构
发展战略
半导体材料
半导体行业
低功耗
吞吐量
存储器
器件
何源富
发展
主席
半导体生产
半导体工业
促成
升降式
多媒体
存储器件
Sapphire
品牌
半导体
分析能力
产品系列
培训中心
科利登公司
失效分析
增强型
失效模式
systems公司
首页
>
根据【检索词:科利登系统(上海)有限公司正式成立】搜索到相关结果
61
条
科
利
登
系统
(
上海
)
有限公司
正式
成立
作者:
暂无
来源:
电子产品世界
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统
(
上海
)
有限公司
正式
成立
科
利
登
(Cre dence):访
科
利
登
系统
(
上海
)
有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON中国
2004
展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
ELMOS购买多台
科
利
登
Piranha^TM
系统
用于汽车器
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
购买
产品线
汽车工业
合作伙伴
制造商
系统
公司
器件
TM
测试
描述:
到30
深耕中华 缔造传奇——解构
科
尼起重机设备(
上海
)
有限公司
总
作者:
杨文荟
来源:
现代制造
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
尼起重机设备
上海
有限公司
何源富
经营管理
产品质量
描述:
时候,外表温和、慈祥的何源富却只是淡然一笑。因为,清醒而坚定的何源富认为,目前的成就只是
科
尼迈出的第一步,潜力无限的中国市场仍需要深耕细作。
市场要闻:
科
利
登
(credence)
系统
公司(北京、
上海
)
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
2004年6月15、18日
科
利
登
(credence)
系统
公司技术研讨会分别在
上海
、北京举行。众多国内外IC测试专家、学者及国内晶圆代工厂、封装测试企业的相关工程师出席了本次会议。
科
利
登
:立志成为全球最大的ATE公司
作者:
胡芃
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体产业
测试
集成电路设计
中国市场
设备公司
中国公司
记者
发展
全球
上海
描述:
China
2004
期间,记者访问了
科
利
登
中国公司总经理Steve Chen和
科
利
登
公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
上海
新
利
登
机械
有限公司
作者:
暂无
来源:
建筑机械化
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
建筑工程机械
人力资源理念
电传网
施工单位
停车设备
工程机械设备
升降式
上海
地铁
东方广场
首都机场
描述:
上海
新
利
登
机械
有限公司
科
利
登
(Cre dence)加大本土化服务、降低测试成本,
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体
测试设备
产品量
测试
系统
有限公司
解决方案
总经理
成本
会展中心
中国市场
描述:
领先的提供从设计到生产全套测试解决方案的供
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
激光扫描显微镜
软件设计
长工作距离
新型集成电路
切换
系统
调试方法
工艺性能
描述:
新型
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率
科
利
登
GlobalScan-I
系统
定位复杂设计和成品率问题
作者:
暂无
来源:
今日电子
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
定位
成品率
失效分析
软件设计
长工作距离
新型集成电路
失效模式
切换
系统
竞争优势
制造工艺
描述:
探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该
系统
与
科
利
登
的EmiScope
系统
(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
首页
上一页
1
2
3
4
5
下一页
尾页