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ELMOS购买多台Piranha^TM系统用于汽车器
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 购买  产品线  汽车工业  合作伙伴  制造商  系统  公司  器件  TM  测试 
描述:到30
系统公司(Credence System)将并购恩普
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:系统公司(Credence System)将并购恩普
系统公司2004年第二季度财务报告
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:系统公司2004年第二季度财务报告
市场要闻:(credence)系统公司(北京、上海)
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:2004年6月15、18日(credence)系统公司技术研讨会分别在上海、北京举行。众多国内外IC测试专家、学者及国内晶圆代工厂、封装测试企业的相关工程师出席了本次会议。
强强联手 蓄势冲击——访系统公司全球总裁兼首席执行
作者:邬小梅  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  人物访谈  电子行业  半导体市场  测试设备 
描述:dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。
:立志成为全球最大的ATE公司
作者:胡芃  来源:中国集成电路 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 半导体产业  测试  集成电路设计  中国市场  设备公司  中国公司  记者  发展  全球  上海 
描述:China 2004期间,记者访问了中国公司总经理Steve Chen和公司产品部经理Thoms M.Trexler以下是访谈内容。
(Cre dence):访系统(上海)有限公司
作者:丁力  来源:集成电路应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统有限公司  陈绪  人物访谈  发展战略  中国市场  测试设备 
描述:2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
新型GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  激光扫描显微镜  软件设计  长工作距离  新型集成电路  切换系统  调试方法  工艺性能 
描述:新型GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题
作者:暂无 来源:今日电子 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统定位  成品率  失效分析  软件设计  长工作距离  新型集成电路  失效模式  切换系统  竞争优势  制造工艺 
描述:探测结构条件下的长工作距离(LWD)物镜。倒向腔体设计用于与生产测试设备对接。该系统的EmiScope系统(IC调试探测系统)构建于同一平台上,可以根据需要直接升级使其具有和EmiScope
系统(上海)有限公司正式成立
作者:暂无 来源:电子产品世界 年份:2004 文献类型 :期刊文章
描述:系统(上海)有限公司正式成立