检索结果相关分组
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- ELMOS购买多台科利登Piranha^TM系统用于汽车器
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 购买 产品线 汽车工业 合作伙伴 制造商 系统 公司 器件 TM 测试
- 描述：到30
- 科利登公司2003财政年度第一季度净亏损为2870万美元
- 作者：暂无 来源：集成电路应用 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 第一季度 财政年度 净亏损 测试方案 美元 半导体工业 财政收入 供应商 日结束 公司
- 描述：2月18日,为全球半导体工业从设计到生产提供测试方案的主要供应商科利登公司公开了于2003年1月31日结束的第一季度的财政收入情况。
- 科利登公司简介 科利登 系统公司
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 公司简介 自动测试设备 美国加利福尼亚州 ISO9001认证 检测技术 测试设施 注册商标 测试验证 半导体生产 测试成本
- 描述：科利登公司简介 科利登 系统公司
- 科利登最新推出Sapphire
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 有限公司 半导体材料 半导体工业 美国加州 供应商 e系列 系统
- 描述：来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展（Semicon West）上展示了该公司领先业界
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electra系统
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 逻辑集成电路 验证测试系统 多芯片模块 系统公司 性能可靠 系统测试 商业部 失效分析 测试工程 系统架构
- 描述：科利登系统公司近日宣布Raytheon 公司的太空和空运系统商业部已经购买了它们的 IMSElectra MX 工程验证测试系统。Raytheon 公司一直希望有一个功能明确,性能可靠的测试系统,能
- 科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 混合信号测试 测试系统 电子器件 测试设备 提高成品率 器件测试 电子芯片 测试成本 集成电路 测试要求
- 描述：科利登(Credence)公司混合信号测试系统
- 科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2004 文献类型 ：期刊文章
- 描述：科利登系统公司(Credence System)将并购恩普
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测