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Credence和Cadence合作验证加快诊断流程
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  系统公司  诊断  测试平台  Test  测试向量 
描述:段]
推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 模块化结构  SoC芯片  特性  无线应用  芯片尺寸  测试设备  工程验证  混合信号  复杂度 
描述:SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 力量  专家  测试解决方案  半导体工业  首席执行官  全球范围  市场  供应商 
描述:现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
创建业界领导者——投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——投资人更新
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
Sapphire D-10来自的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自的测试经济化革新
ATE巨头掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。
microtec购买多台Sapphire D-10测
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  购买  渗透力  测试实验室  市场  有限公司  混合信号    视频  数字和  多媒体 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字
全新的:提供先进技术降低测试成本
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  测试成本  竞争优势  商业战略 
描述:全新的:提供先进技术降低测试成本
Atmel利用的ASL3000RFTM无线测试系统实
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 无线测试  ASL3000  测试效率  WLAN  测试解决方案  无线器件  测试成本  分支机构  团队  工程开发 
描述:N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。