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相关搜索词
测试
图象质量
器件
科利登公司
systems公司
Sun公司
Raytheon公司
Sapphire
SoC器件
Octet系统
多媒体
存储器件
SoC芯片
半导体工业
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根据【检索词:科利登具有6.4G速度测试能力的Sapphire S测试系统】搜索到相关结果
7
条
科
利
登
推出具有
6.4G
bps
测试
能力
的Sapphires
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
测试
能力
自动测试设备
科
利
登
系统
公司
Sun公司
4G
微处理器芯片
描述:
度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该
系统
测试
和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
科
利
登
sapphire
D-10
测试
系统
销往欧洲领先的
测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
实验室
测试
系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科
利
登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10
测试
系统
。该
测试
实验室将使用这些先进的
测试
系统
来
测试
多媒体音,视频数字和混合
服务
测试
领域 满足客户需求:访
科
利
登
系统
公司首席执行官Da
作者:
Dave
Ranhoff
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统
公司
首席执行官
服务
测试
客户需求
测试
解决方案
全球范围
技术人员
设备制造商
科
利
登
公司
工业设计
描述:
科
利
登
系统
公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
科
利
登
推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产
测试
解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本
测试
解决方案而设计。[第一段]
第四届
科
利
登
系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
技术研讨
西安
测试
解决方案
生产
测试
供应商
描述:
从设计到生产
测试
的全过程
测试
解决方案供应商——
科
利
登
系统
有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届
科
利
登
系列
测试
技术研讨年会”。[第一段]
科
利
登
公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
在2006年度VLSI Research客户满意度调查中,
科
利
登
公司再次取得了很好的排名。
科
利
登
公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名,这也证明了
科
利
登
公司的产品、客户服务和支持的独到之处
EmiSchope-II
系统
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
EmiSchope
II
系统
科
利
登
子公司
固态浸人透镜
IC设计
描述:
EmiSchope-II
系统
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