检索结果相关分组
登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  VLSI公司  用户满意度  自动测试设备 
描述:登在VLSI关于测试与材料加工设备公司的用户满意度调查
第四届系列技术研讨会于2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 西安  并行测试  技术研讨会  解决方案  同期  封装测试  现场  展示  混合信号  设计 
描述:第四届系列技术研讨会于2006年6月2日在中国西安
第四届系列技术研讨会子2006年6月2日在中国西安
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨会  西安  中国  年会  IC测试  RFID芯片 
描述:对本次研讨会的主题表现出了浓厚的兴趣,积极地与来自的演讲专家进行沟通和探讨,同期现场展示的最新产品SapphireD-10,也吸引了代表们的高度关注。[第一段]
强强联手 蓄势冲击——访系统公司全球总裁兼首席执行
作者:邬小梅  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  人物访谈  电子行业  半导体市场  测试设备 
描述:dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。
新聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2007 文献类型 :期刊文章 关键词: 力量  专家  测试解决方案  半导体工业  首席执行官  全球范围  市场  供应商 
描述:现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2003 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  MSVanguard系列  半导体行业  生产测试  逻辑集成电路 
描述:公司把IMS Vanguard系列延伸到增长中的消费
创建业界领导者——投资人更新
作者:G Siddall  来源:半导体技术 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: 公司  恩浦公司  特征分析  调试  半导体设备 
描述:创建业界领导者——投资人更新
Sapphire S测试系统被Sun Microsy
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: systems公司  Sun公司  测试系统  自动测试设备  微处理器芯片  SPARC  高速芯片  系统使用 
描述:开发。[第一段]
Sapphire D-10来自的测试经济化革新
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 经济化  革新  测试  电子产品  电池寿命  操作性能  图象质量  制造商  消费类 
描述:Sapphire D-10来自的测试经济化革新
ATE巨头掀起测试行业新高潮
作者:Peter Wu Mike Evon  来源:半导体技术 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  ATE  行业  公司  高潮  掀起  SEMI  中国市场  中国用户  总经理 
描述:采访记录。