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图象质量
测试
Sapphire
半导体行业
发展
Raytheon公司
供应商
加工成本
器件
存储器件
Octet系统
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科利登公司
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根据【检索词:科利登:成就测试帝国】搜索到相关结果
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条
科
利
登
:
成就
测试
帝国
作者:
安勇龙
来源:
电子经理世界
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
:
成就
测试
帝国
Sapphire D-10来自
科
利
登
的
测试
经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自
科
利
登
的
测试
经济化革新
科
利
登
推出Sapphire-D10系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sapphire
D10系统
封装
测试
集成电路
科
利
登
系统公司
描述:
高的并行能力。[第一段]
科
利
登
连续三年ATE供应商满意度第一
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
VLSI
超大规模集成电路
测试
科
利
登
系统公司
ATE
供应商
满意度
描述:
科
利
登
系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳
测试
与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
科
利
登
新推GlobalScan-I集成电路诊断系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
集成电路
掩模
量产时间
诊断系统
测试
调试方法
降低
产品
加工成本
遗漏
描述:
科
利
登
日前宣布推出新型集成电路诊断系统GlobalScan-I。此系统能够鉴别出通常被
测试
失效分析和调试方法遗漏的失效源,从而实现快速的设计修正,降低掩模重加工成本并缩短产品进入量产时间。
科
利
登
推出新型
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路
测试
系统
Personal
科
利
登
系统公司
非挥发性存储器
测试
能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用
测试
系统Kalos 2和工程
测试
系统Personal Kalos 2完全兼容。
科
利
登
测试
系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科
利
登
系统公司
gigabit
解决方案
测试
平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire
测试
系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键
测试
平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Zetex半导体选择
科
利
登
的ASL3000
测试
其类型广泛的
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
混合信号
拟和
科
利
登
系统公司
类型
测试
解决方案
集成电路器件
美国加州
半导体业
测试
成本
分立器件
产品市场
测试
方案
供应商
设计
描述:
说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的
测试
方案。
科
利
登
引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
作者:
王明伟
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
新潮流
测试
系统
低成本
半导体工业
生产商
解决方案
经济化
产品
测试
技术发展
测试
设备
描述:
科
利
登
引领
测试
经济化新潮流——Sapphire D-10亮
Silicon Image购买了
科
利
登
Sapphire
测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试
系统
消费类
购买
科
利
登
系统公司
gigabit
一代
测试
解决方案
半导体工业
测试
平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
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