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根据【检索词:科利登:成就测试帝国】搜索到相关结果
3
条
科
利
登
跻身ATE塔尖行列
作者:
东郭
来源:
电子设计应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
半导体行业
科
利
登
公司
ATE
IC
SoC
测试
ASL1000
ASL3000RF
市场
描述:
科
利
登
跻身ATE塔尖行列
科
利
登
推出注重芯片成本的高量产
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
芯片
成本控制
封装
测试
系统
D—10系统
图形调试
描述:
科
利
登
推出注重芯片成本的高量产
测试
系统
新闻总汇--
测试
与测量
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
LabVIEW工具包
NI公司
非挥发性存储器器件
软件驱动程序
光纤通道控制器芯片
科
利
登
系统有限公司
描述:
新闻总汇--
测试
与测量
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