检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(418)
报纸
(179)
会议论文
(13)
学位论文
(4)
图书
(1)
按栏目分组
历史名人
(551)
地方文献
(27)
地方风物
(17)
宗教集要
(11)
红色文化
(5)
非遗保护
(2)
才乡教育
(1)
文化溯源
(1)
按年份分组
2014
(77)
2010
(29)
2008
(39)
2007
(27)
2006
(46)
2005
(56)
2004
(52)
2003
(37)
1991
(5)
1982
(5)
按来源分组
电子工业专用设备
(20)
中国集成电路
(19)
电子与电脑
(17)
半导体技术
(17)
集成电路应用
(13)
电子与封装
(11)
电子测试(新电子)
(10)
电子元器件应用
(7)
国外电子测量技术
(5)
电子资讯时报
(4)
相关搜索词
SoC器件
测试
图象质量
器件
半导体材料
吞吐量
半导体行业
科利登公司
systems公司
Sapphire
Raytheon公司
多媒体
ASL1000
存储器件
Octet系统
半导体工业
存储器
多功能
低功耗
复杂度
增强型
器件测试
分支机构
团队
Octet测试系统
Vanguard测试系统
发展
XDSL
供应商
首页
>
根据【检索词:矽格定购了多台科利登Sapphire测试系统】搜索到相关结果
46
条
科
利
登
Sapphire
D-10
系统
获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科
利
登
系统
有限公司日前宣布其
Sapphire
D-10
系统
荣获
2006
年度《
测试
与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳
测试
奖)奖项。[第一段]
科
利
登
最新推出
Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商一科
利
登
系统
有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科
利
登
的
Sapphire
S
测试
系统
被Sun公司采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
systems公司
微处理器芯片
高速芯片
科
利
登
公司
高速接口
描述:
很多拥有高速接口的先进芯片,用传统的自动测试设备无法对它们进行精确
测试
。运行在
Sapphire
S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能,并拥有
测试
那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
科
利
登
Sapphire
S
测试
系统
被Sun Microsy
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
systems公司
Sun公司
测试
系统
自动测试设备
微处理器芯片
SPARC
高速芯片
系统
使用
描述:
开发。[第一段]
科
利
登
sapphire
D-10
测试
系统
销往欧洲领先的
测试
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
实验室
测试
系统
欧洲
混合信号
多媒体
高电压
芯片
视频
描述:
科
利
登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了
多台
SapphireTM D-10
测试
系统
。该
测试
实验室将使用这些先进的
测试
系统
来
测试
多媒体音,视频数字和混合
科
利
登
具有6.4G速度
测试
能力的
Sapphire
S
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
描述:
自动测试设备。D-6436是一款高性能高通道密度的功能
测试
设备,它主要用于调试和
测试
超过6.4Gb·ps的高速芯片。Sun公司将把该
系统
使用于其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一
microtec购买
多台
科
利
登
Sapphire
D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试
实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登
系统
有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了
多台
Sapphire
^TM WD-10
测试
系统
。该
测试
实验室将使用这些业界领先的
测试
系统
来
测试
多媒体音/视频数字
科
利
登
新推出的
Sapphire
D-40
测试
平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
平台
测试
能力
射频
RF
测试
解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的
测试
能力。[第一段]
科
利
登
SEMICON展出
Sapphire
D-10
系统
作者:
杨振中
来源:
电子资讯时报
年份:
2006
文献类型 :
报纸
描述:
【杨振中/北京】半导体
测试
解决方案 主要供应商──
科
利
登
(Credence)在刚刚 结束的“
2006
SEMICON China”展出了其 高量产混合信号
测试
产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
QuickLogic选用
科
利
登
Sapphire
D-10
系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利
登
系统
(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其
Sapphire
D—10
测试
系统
,并将选用该
系统
作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品
测试
系统
。[第一段]
首页
上一页
1
2
3
4
5
下一页
尾页