检索结果相关分组
sapphire D-10测试系统销往欧洲领先的测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试实验室  测试系统  欧洲  混合信号  多媒体  高电压  芯片  视频 
描述:系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些先进的测试系统测试多媒体音,视频数字和混合
服务测试领域 满足客户需求:访系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  公司  工业设计 
描述:系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
推出具有6.4G bps测试能力的Sapphires
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试系统  测试能力  自动测试设备  系统公司  Sun公司  4G  微处理器芯片 
描述:度的功能测试设备,它主要用于调试和测试超过6.4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。[第一段]
推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
第四届系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨  西安  测试解决方案  生产测试  供应商 
描述:从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届系列测试技术研讨年会”。[第一段]
公司连续第五年取得VLSI Research十佳客户
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章
描述:在2006年度VLSI Research客户满意度调查中,公司再次取得了很好的排名。公司已经连续五年被客户评选为“十佳”的前五名,这也证明了公司的产品、客户服务和支持的独到之处
EmiSchope-II系统
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2004 文献类型 :期刊文章 关键词: EmiSchope  II系统  子公司  固态浸人透镜  IC设计 
描述:EmiSchope-II系统