检索结果相关分组
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]
- microtec购买多台科利登Sapphire D-10测
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试系统 购买 渗透力 测试实验室 市场 有限公司 混合信号 音 视频 数字和 多媒体
- 描述：科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台Sapphire^TM WD-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音／视频数字
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度
- Atmel利用科利登的ASL3000RFTM无线测试系统实
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 无线测试 ASL3000 测试效率 WLAN 测试解决方案 无线器件 测试成本 分支机构 团队 工程开发
- 描述：N器件市场提供了关键的节约测试成本的解决方案。
- ATE巨头科利登掀起测试行业新高潮
- 作者：Peter Wu Mike Evon 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试平台 ATE 行业 科利登公司 高潮 掀起 SEMI 中国市场 中国用户 总经理
- 描述：采访记录。
- 全新的科利登：提供先进技术降低测试成本
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 测试成本 竞争优势 商业战略
- 描述：全新的科利登：提供先进技术降低测试成本
- 强强联手 蓄势冲击——访科利登系统公司全球总裁兼首席执行
- 作者：邬小梅 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 人物访谈 电子行业 半导体市场 测试设备
- 描述：dall博士带领公司高层,亲临上海主持开业庆典,借此机会,AIT《半导体技术杂》志社记者采访了Siddall博士。