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科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
作者:暂无 来源:电子设计应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登公司  芯片  成本控制  封装测试系统  D—10系统  图形调试 
描述:科利登推出注重芯片成本的高量产测试系统
科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  科利登系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
京元电子购买多台科利登Sapphire系统
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 购买  客户  量产  节约  有限公司  电子  吞吐量  测试成本  测试系统 
描述:科利登系统有限公司近日宣布京元电子有限公司(KYEC)已经购买了多台Sapphire测试系统。京元将使用Sapphire提高其高量产测试的吞吐量,为客户节约了测试成本。
科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章
描述:以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]