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科利登发布D-6432DFT测试解决方案，帮助用户满足不断: 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2007 文献类型：期刊文章 关键词： 测试解决方案高数据速率 Systems 用户半导体工业微处理器测试平台供应商; 描述：件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]

科利登D-6432DFT满足高数据速率需求: 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型：期刊文章 关键词： 高数据速率测试解决方案科利登系统公司半导体器件高速串行总线可测性设计微处理器环路测试; 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器

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